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國內首款X射線小角散射測試儀研制成功

作者： 2013年08月27日 來源： 瀏覽量： 403 Forbidden

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日前，由秦皇島太極環(huán)納米制品公司出資，鋼鐵研究總院粉末冶金研究室高級工程師鄭毅，經過兩年的潛心研制與改進，國內首款X射線小角散射測試儀日前研制成功。

　　日前，由秦皇島太極環(huán)納米制品公司出資，鋼鐵研究總院粉末冶金研究室高級工程師鄭毅，經過兩年的潛心研制與改進，國內首款X射線小角散射測試儀日前研制成功。

　　該測試儀依據國家和國際標準技術規(guī)范，可以進行1—300nm的數量級范圍內的納米顆粒粒度分布測試，主要應用于金屬、陶瓷、涂料等工業(yè)領域。其測試精度接近或超過進口設備，價格比同類進口儀器降低了2/5左右。

　　據了解，目前，可用于測量納米顆粒粒度分布的測試儀器還包括電鏡、BET比表面儀與納米粒度儀。X射線小角散射方法有明顯的技術優(yōu)勢，與電鏡相比，X射線小角散射法制樣簡單，樣品測量種類多樣，數據的統計代表性優(yōu)良。據介紹，BET比表面測試的方法無法給出納米粒度分布的測試結果，激光法測試的納米粒度儀器需要對樣品進行很好的分散，否則測量結果為顆粒團聚體的粒度分布，而X射線小角散射儀測定結果為一次顆粒的粒度分布，即使納米顆粒不能很好的分散，測試結果受顆粒團聚效應的影響也不大。

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標簽：X射線 小角散射 測試儀 研制

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