國內(nèi)首款X射線小角散射測(cè)試儀研制成功

　　日前，由秦皇島太極環(huán)納米制品公司出資，鋼鐵研究總院粉末冶金研究室高級(jí)工程師鄭毅，經(jīng)過兩年的潛心研制與改進(jìn)，國內(nèi)首款X射線小角散射測(cè)試儀日前研制成功。

　　該測(cè)試儀依據(jù)國家和國際標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)規(guī)范，可以進(jìn)行1—300nm的數(shù)量級(jí)范圍內(nèi)的納米顆粒粒度分布測(cè)試，主要應(yīng)用于金屬、陶瓷、涂料等工業(yè)領(lǐng)域。其測(cè)試精度接近或超過進(jìn)口設(shè)備，價(jià)格比同類進(jìn)口儀器降低了2/5左右。

　　據(jù)了解，目前，可用于測(cè)量納米顆粒粒度分布的測(cè)試儀器還包括電鏡、BET比表面儀與納米粒度儀。X射線小角散射方法有明顯的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，與電鏡相比，X射線小角散射法制樣簡(jiǎn)單，樣品測(cè)量種類多樣，數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)代表性優(yōu)良。據(jù)介紹，BET比表面測(cè)試的方法無法給出納米粒度分布的測(cè)試結(jié)果，激光法測(cè)試的納米粒度儀器需要對(duì)樣品進(jìn)行很好的分散，否則測(cè)量結(jié)果為顆粒團(tuán)聚體的粒度分布，而X射線小角散射儀測(cè)定結(jié)果為一次顆粒的粒度分布，即使納米顆粒不能很好的分散，測(cè)試結(jié)果受顆粒團(tuán)聚效應(yīng)的影響也不大。