CRAIC攜手云緯科技為顯微光譜分析提供先進解決方案

   美國CRAIC是一家提供顯微分光光度計解決方案的全球領(lǐng)先供應(yīng)商，自成立以來， CRAIC 一致致力于為顯微區(qū)域的深紫外，可見光，近紅外研發(fā)光學(xué)測量設(shè)備，其研發(fā)的顯微分光光度計可以對小于一個微米的樣品進行光譜分析?！　?/span>

  顯微分光光度計　　　　CRAIC 也設(shè)計和搭建紫外-可見光-近紅外透過范圍的科研級顯微鏡，美國CRAIC系統(tǒng)可從微觀的樣品中無損的獲得熒光，透射，和反射的全光譜和圖像，美國CRAIC 原廠及其科研級的檢測系統(tǒng)除了廣泛應(yīng)用于工業(yè)(比如半導(dǎo)體檢查)，制藥，還應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、生物科學(xué)及制藥、表面等離子共振，法醫(yī)痕跡鑒證等科學(xué)研究領(lǐng)域　　　　深圳云緯科技有限公司成為美國CRAIC 在中國的一級代理商，我公司與美國CRAIC公司一起攜手，為國內(nèi)微區(qū)光譜科研貢獻最先進的微區(qū)光譜解決方案，深圳云緯科技有限公司是一家專業(yè)的檢測分析儀器設(shè)備供應(yīng)商，專業(yè)為客戶提供最全面的，最先進的顯微光譜分析檢測儀器設(shè)備。我們也是一家技術(shù)型的貿(mào)易企業(yè)，也一直致力于材料科學(xué)，地質(zhì)研究，生物科學(xué)及制藥，刑偵和工業(yè)檢測等領(lǐng)域?！　　　RAIC一直致力于以下研究顯微分析技術(shù)　　　　· 紫外-可見光-近紅外 顯微光譜學(xué)技術(shù)　　　　· 紫外-可見光-近紅外 顯微鏡學(xué)　　　　· 色度顯微光譜學(xué)　　　　· 透射顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)　　　　· 反射顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)　　　　· 熒光顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)　　　　· 偏振光顯微光譜學(xué) &顯微鏡學(xué)　　　　· 拉曼顯微光譜學(xué)　　　　· 膜厚測量　　　　· 譜模式　　　　編輯點評　　　　美國CRAIC公司是研究及生產(chǎn)顯微分光光度分析系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)者。美國CRAIC公司生產(chǎn)的QDI系列顯微分光光度分析系統(tǒng)采用了科研級顯微鏡，科研級圖象采集探測器及科研級光譜分析儀。 顯微分光光度分析系統(tǒng)結(jié)合了顯微學(xué)及光譜學(xué)的優(yōu)勢，實現(xiàn)了對顯微樣品的無損光譜測量及光譜分析。目前已用于石油，煤炭，生物學(xué)，半導(dǎo)體科學(xué)，材料科學(xué)，工業(yè)質(zhì)量控制及刑事科學(xué)等。