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一項(xiàng)電子電氣產(chǎn)品中汞含量檢測標(biāo)準(zhǔn)面向社會征求意見

作者： 2020年05月14日 來源：全球化工設(shè)備網(wǎng) 瀏覽量：
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為了適應(yīng)產(chǎn)業(yè)對應(yīng)對新種類有害物質(zhì)限制要求和新型檢測技術(shù)發(fā)展，同時保持我國 RoHS 檢測技術(shù)及結(jié)果國際一致，有必要對GB/T 26125-2011進(jìn)行修訂并等同轉(zhuǎn)化IEC 62321修訂發(fā)布的序列標(biāo)準(zhǔn)。近日，由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研
　　隨著電子電氣產(chǎn)品的飛速發(fā)展和廣泛使用，其對環(huán)境造成的影響也日益引起人們的注意。在這種形勢下，世界各國也紛紛通過制定相應(yīng)的法律法規(guī)來保護(hù)環(huán)境，減少電子電氣產(chǎn)品對環(huán)境的影響。
 
　　為了適應(yīng)產(chǎn)業(yè)對應(yīng)對新種類有害物質(zhì)限制要求和新型檢測技術(shù)發(fā)展，同時保持我國 RoHS 檢測技術(shù)及結(jié)果國際一致，有必要對GB/T 26125-2011進(jìn)行修訂并等同轉(zhuǎn)化IEC 62321修訂發(fā)布的序列標(biāo)準(zhǔn)。近日，由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院主要起草的《電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分：CV-AAS，CV-AFS，ICP-OES和ICP-MS測定聚合物，金屬和電子件中的汞》已經(jīng)制修訂完成，正面向社會征求意見。
 
　　據(jù)悉，《電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分：CV-AAS，CV-AFS，ICP-OES和ICP-MS測定聚合物，金屬和電子件中的汞》是由全國電工電子產(chǎn)品與系統(tǒng)的環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口上報，全國電工電子產(chǎn)品與系統(tǒng)的環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會有害物質(zhì)檢測方法分會執(zhí)行，國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會主管的，是起草組在參考了原有的標(biāo)準(zhǔn)政策，并引用了IEC 62554《測量熒光燈內(nèi)汞含量的樣品的制備》、GB/T 6682-2008《分析實(shí)驗(yàn)室用水規(guī)范和試驗(yàn)方法》等文件后起草的，規(guī)定了電子電氣產(chǎn)品中汞含量的四種測定方法。
 
　　本標(biāo)準(zhǔn)等同采用了用IEC 62321-4:2013+AMD1:2017《電工電子產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分：CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS測定聚合物、金屬和電子件中的汞》，但相較于原標(biāo)準(zhǔn)，主要修改如下：修改了標(biāo)準(zhǔn)名稱；考慮到方便標(biāo)準(zhǔn)使用者對于標(biāo)準(zhǔn)的理解和使用，增加了對痕量金屬級的注解；將“豁免”改為“應(yīng)用例外”。
 
　　本標(biāo)準(zhǔn)描述了四種方法的使用步驟，分別是冷蒸氣原子吸收光譜法、冷蒸氣原子熒光光譜法、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法，而這四種方法均具有不確定度小、高靈敏度、檢出限低等特點(diǎn)，可以測定4mg/kg-100mg/kg含量范圍內(nèi)的汞，且準(zhǔn)確度和精確度都很高。此外，采用熱分解-金汞齊結(jié)合冷蒸氣原子吸收光譜法，無需樣品消解，即可對汞進(jìn)行直接測定，且由于樣品量少，檢出限會高于其他方法。
 
　　值得注意的是，因本部分并未指出所有可能的安全問題，故而操作本部分方法的人員應(yīng)有正規(guī)實(shí)驗(yàn)室工作的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，且使用者也應(yīng)采取符合國家有關(guān)法規(guī)規(guī)定條件的、適當(dāng)?shù)陌踩徒】荡胧?br />  
　　更多詳情請點(diǎn)擊：《電子電氣產(chǎn)品中某些物質(zhì)的測定 第4部分：CV-AAS，CV-AFS，ICP-OES和ICP-MS測定聚合物，金屬和電子件中的汞》征求意見稿
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標(biāo)簽：電子電氣產(chǎn)品 汞 聚合物

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