X射線鍍層測(cè)厚儀影響因素的有關(guān)說(shuō)明(2019-06-11)

鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國(guó)際化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。鍍層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切…[詳情]

X射線鍍層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的影響因素(2018-03-05)

1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性…[詳情]