對于空間碎片觀測相機(jī)、超高精度星敏感器等探測暗弱點(diǎn)狀目標(biāo)的設(shè)備而言,大口徑緊湊型高像質(zhì)的光學(xué)系統(tǒng)是實(shí)現(xiàn)設(shè)備亞角秒級探測精度關(guān)鍵影響因素。
對星敏感器等姿態(tài)測量精度影響較大的是溫度變化引起透鏡組光學(xué)性能的變化的視軸漂移誤差,光學(xué)系統(tǒng)焦距誤差,光軸偏離誤差和焦平面傾斜誤差以及光學(xué)畸變校正殘留誤差引起的偏置誤差等低頻誤差。
由空間室王虎、劉杰、薛要克等人的發(fā)明專利《暗弱點(diǎn)狀目標(biāo)探測用亞角秒級大口徑緊湊型光學(xué)結(jié)構(gòu)》很好的解決了上述問題,使得光學(xué)系統(tǒng)的熱穩(wěn)定性及高像質(zhì)有效減小了低頻誤差,近日已獲發(fā)明授權(quán)。
該系統(tǒng)光學(xué)總長為175mm(與口徑尺寸相當(dāng)),焦距320mm,是目前國內(nèi)首個口徑最大、焦距最長的星敏感器光學(xué)系統(tǒng)。該系統(tǒng)引入了無熱化、輕小型化及雜光抑制等多項技術(shù)。其中,采用次反射鏡與孔徑校正鏡共面的設(shè)計理念,以及孔徑校正鏡在光路中被應(yīng)用多次等特殊布局,縮短了光學(xué)總長,使系統(tǒng)的口徑與光學(xué)總長相當(dāng);次鏡遮光罩與孔徑校正鏡中心以通孔方式連接,有效減小了遮攔及雜光多次反射影響,獲得了良好的雜散光抑制效果。整個光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)好,能量集中,彌散斑和色偏差以及色畸變都較小,有利于亞角秒級探測精度的實(shí)現(xiàn),適用于超高精度星敏感器以及空間碎片等暗弱點(diǎn)目標(biāo)的探測。
該發(fā)明專利的實(shí)施例已成功應(yīng)用于天舟一號貨運(yùn)飛船。
標(biāo)簽:
相關(guān)資訊