序號(hào) |
國家標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) |
國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 名 稱 |
代替標(biāo)準(zhǔn)號(hào) |
實(shí)施日期 |
1 |
GB/T 4377-2018 |
半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法 |
GB/T 4377-1996 |
2018-08-01 |
2 |
GB/T 14028-2018 |
半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)測(cè)試方法 |
GB/T 14028-1992 |
2018-08-01 |
3 |
GB/T 35001-2018 |
微波電路 噪聲源測(cè)試方法 |
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2018-08-01 |
4 |
GB/T 35002-2018 |
微波電路 頻率源測(cè)試方法 |
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2018-08-01 |
5 |
GB/T 35003-2018 |
非易失性存儲(chǔ)器耐久和數(shù)據(jù)保持試驗(yàn)方法 |
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2018-08-01 |
6 |
GB/T 35004-2018 |
數(shù)字集成電路 輸入/輸出電氣接口模型規(guī)范 |
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2018-08-01 |
7 |
GB/T 35005-2018 |
集成電路倒裝焊試驗(yàn)方法 |
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2018-08-01 |
8 |
GB/T 35006-2018 |
半導(dǎo)體集成電路 電平轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法 |
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2018-08-01 |
9 |
GB/T 35007-2018 |
半導(dǎo)體集成電路 低電壓差分信號(hào)電路測(cè)試方法 |
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2018-08-01 |
10 |
GB/T 35008-2018 |
串行NOR型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范 |
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2018-08-01 |
11 |
GB/T 35009-2018 |
串行NAND型快閃存儲(chǔ)器接口規(guī)范 |
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2018-08-01 |
12 |
GB/T 35010.1-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第1部分:采購和使用要求 |
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2018-08-01 |
13 |
GB/T 35010.2-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第2部分:數(shù)據(jù)交換格式 |
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2018-08-01 |
14 |
GB/T 35010.3-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第3部分:操作、包裝和貯存指南 |
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2018-08-01 |
15 |
GB/T 35010.4-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第4部分:芯片使用者和供應(yīng)商要求 |
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2018-08-01 |
16 |
GB/T 35010.5-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第5部分:電學(xué)仿真要求 |
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2018-08-01 |
17 |
GB/T 35010.6-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第6部分:熱仿真要求 |
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2018-08-01 |
18 |
GB/T 35010.7-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第7部分:數(shù)據(jù)交換的XML格式 |
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2018-08-01 |
19 |
GB/T 35010.8-2018 |
半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品 第8部分:數(shù)據(jù)交換的EXPRESS格式 |
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2018-08-01 |
20 |
GB/T 35011-2018 |
微波電路 壓控振蕩器測(cè)試方法 |
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2018-08-01 |
標(biāo)簽:
相關(guān)技術(shù)