XRF光譜儀在ROHS檢測(cè)中的作用

采用XRF設(shè)備應(yīng)用于有害元素測(cè)試的劣勢(shì)：

1.只能測(cè)試元素，不能測(cè)試離子狀態(tài)的物質(zhì)。
2.XRF設(shè)備的分析方法是采用標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)比分析方法，而對(duì)于不同材質(zhì)的樣品必須選擇不同材質(zhì)的工作曲線測(cè)試，有可能帶入人為誤差。
3.對(duì)于要求較高標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試普通XRF的檢出限很難達(dá)到客戶要求；
4.對(duì)樣品測(cè)試要求進(jìn)行拆分測(cè)試。

采用XRF設(shè)備應(yīng)用于有害元素測(cè)試中的優(yōu)勢(shì)

1.分析樣品無(wú)損、快速，針對(duì)未知樣品可以快速分析；
2.可采用小型的XRF設(shè)備進(jìn)行便攜測(cè)試。
3.在保證工作曲線完善和樣品前處理的情況下，其測(cè)試結(jié)果重復(fù)性好、準(zhǔn)確度高。
4.多元素可同時(shí)測(cè)試得出結(jié)果，一次可測(cè)試元素二十多個(gè)以上；
5.可用于生產(chǎn)中的過(guò)程內(nèi)部控制，測(cè)試可達(dá)到在線、速度快，快速反應(yīng)生產(chǎn)線等特點(diǎn)。

表面是否有油污，或重金屬污染。
表面有涂附層或電鍍層。
金屬表面有電鍍層的，要測(cè)試內(nèi)部金屬的有害元素指標(biāo)，應(yīng)該盡可能將表面的鍍層去處后測(cè)試。如：金屬表面鍍鎳鍍鋅，可以使用“測(cè)有色金屬中CrCdPbHg”項(xiàng)直接測(cè)試，但表面的鍍層影響內(nèi)部基材測(cè)試結(jié)果。
如果金屬表面鍍錫，將使用“測(cè)錫中的Pb”項(xiàng)測(cè)試，如果要測(cè)試基材的有害成分，將需要將表面的鍍層去除。
與其它類金屬物件或塑膠件混合測(cè)試。
樣品過(guò)小，而測(cè)試時(shí)間比較短的情況下。
未按規(guī)定使用準(zhǔn)直器。

XRF分析是對(duì)比分析，也是對(duì)點(diǎn)的分析；而對(duì)比的基準(zhǔn)就是標(biāo)樣，因此，標(biāo)樣的好壞和是否全面性是直接影響到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度。所以在進(jìn)行XRF分析的時(shí)候，首先要做的就是針對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)定工作。沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)曲線就無(wú)法定量分析。

1.標(biāo)樣的好壞指的是：樣品成分一致并且均勻。
2.標(biāo)樣的全面性是指：標(biāo)準(zhǔn)樣品元素的含量范圍梯度是否很集全。
3.重要的是要注意標(biāo)樣各元素的結(jié)果是否為客戶認(rèn)可的結(jié)果并在XRF設(shè)備中是成線性變化的。
4.而被測(cè)樣品一般都建議其顆粒度、均勻性都與標(biāo)樣接近，這樣測(cè)出來(lái)的結(jié)果才更準(zhǔn)確。

XRF儀器的五大優(yōu)點(diǎn)

快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘
無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)
：對(duì)樣品可以精確分析
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然
環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水

X熒光光譜儀在ROHS檢測(cè)中的應(yīng)用

1、ROHS及有害元素測(cè)試介紹

RoHS--《關(guān)于在電子電氣設(shè)備中限制使用某些有害物質(zhì)指令》也稱2002/95/EC指令，后以2005/618/EC決議進(jìn)行補(bǔ)充
RoHS核心內(nèi)容
投放歐盟市場(chǎng)的電子電氣設(shè)備不得使用以下六種物質(zhì)：鉛 (Pb)、汞 (Hg)、鎘 (Cd)、六價(jià)鉻 (Cr6+)、 多溴聯(lián)苯 (PBBs)、多溴二苯醚 (PBDEs)
執(zhí)行時(shí)間：2006年7月1日

歐盟RoHS指令規(guī)定的物品中有害元素含量應(yīng)小于或等于下表中相應(yīng)元素的限量要求。