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東莞冷熱沖擊試驗(yàn)箱(兩箱移動(dòng)式)的簡(jiǎn)單介紹冷熱沖擊試驗(yàn)箱(兩箱移動(dòng)式)適用于各類電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和各種溫度沖擊及溫度變化的可靠性試驗(yàn)。東莞冷熱沖擊試驗(yàn)箱(兩箱移動(dòng)式)的詳細(xì)信息冷熱沖擊試驗(yàn)箱(兩箱移動(dòng)式) 用途:冷熱沖擊試驗(yàn)箱(兩箱移動(dòng)式)適用于各類電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和各種溫度沖擊及溫度變化的可靠性試驗(yàn)。 1.制造標(biāo)準(zhǔn)GB/T10586-2006及GB/T10592-1989 2.檢定標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.2-1996,GB/T5170.5-1996. 3.滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn): GB2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GB2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法 GB/T2423.22-2008 試驗(yàn)N: 溫度變化試驗(yàn)方法 GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法 GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法 GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗(yàn)
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